单项选择题
A.晶体准直器 B.测角器 C.参考试块 D.工件
A.半圆试法和横孔法 B.双孔法 C.直角边法 D.不一定，须视具体情况而定
A.工作频率 B.晶片尺寸 C.探测深度 D.近场长度
A.探测范围大 B.盲区小 C.工件中近场长度小 D.杂波少
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