在进行芯片的推力测试时，以下哪种情况可以认定为质量不合格？（）

A.芯片断裂，此时的推力值大于最小值
B.芯片被推起，此时的推力值小于最小值
C.芯片和银胶被推起，此时的推力值大于芯片被推起的最小值
D.芯片和银胶被推起，此时的推力值小于芯片被推起的最小值