单项选择题
A.95度B.90度C.80度D.75度
硅暴露在空气中,在室温下即可产生二氧化硅层,厚度约为()。A.30nmB.10nmC.20nmD.25nm
单项选择题硅暴露在空气中,在室温下即可产生二氧化硅层,厚度约为()。
A.30nmB.10nmC.20nmD.25nm
下面哪个选项不是集成电路工艺用化学气体质量的指标?()A.金属离B.微粒C.纯度D.浓度
单项选择题下面哪个选项不是集成电路工艺用化学气体质量的指标?()
A.金属离B.微粒C.纯度D.浓度
如下哪个选项不是半导体器件制备过程中的主要污染物?()A.化学物质B.金属离子C.融解的氧气D.细菌
单项选择题如下哪个选项不是半导体器件制备过程中的主要污染物?()
A.化学物质B.金属离子C.融解的氧气D.细菌