旋涂膜层是一种传统的平坦化技术，在0.35μm及以上器件的制造中常普遍应用于平坦化和填充缝隙。

20世纪90年代初期使用的第一台CMP设备是用样片估计抛光时间来进行终点检测的。

判断题20世纪90年代初期使用的第一台CMP设备是用样片估计抛光时间来进行终点检测的。

CMP带来的一个显著的质量问题是表面微擦痕。小而难以发现的微擦痕导致淀积的金属中存在隐藏区，可能引起同一层金属...

判断题CMP带来的一个显著的质量问题是表面微擦痕。小而难以发现的微擦痕导致淀积的金属中存在隐藏区，可能引起同一层金属之间的断路。

在CMP设备中被广泛采用的终点检测方法是光学干涉终点检测。

判断题在CMP设备中被广泛采用的终点检测方法是光学干涉终点检测。