单项选择题
A.BondingProcessB.WorkHolderPRC.IndexingProcessD.WaferPR
进行芯片粘接工序的检验操作时,下列选项中不属于材料不符的是()。A.芯片方向与键合图不一致B.芯片型号与随件单...
单项选择题进行芯片粘接工序的检验操作时,下列选项中不属于材料不符的是()。
A.芯片方向与键合图不一致B.芯片型号与随件单不一致C.引线框架与产品不一致D.焊料与随件单不一致
装片后进行外观检查时,图中箭头所指的不良现象是()。A.支架生锈、沾污B.缺(崩)角C.碎片D.银胶胶量不足
装片后进行外观检查时,图中箭头所指的不良现象是()。
A.支架生锈、沾污B.缺(崩)角C.碎片D.银胶胶量不足
某批次作业的晶圆切割道宽度为60μm,更适合选择如下刀片厚度为()的划片刀。A.20μmB.50μmC.60μ...
单项选择题某批次作业的晶圆切割道宽度为60μm,更适合选择如下刀片厚度为()的划片刀。
A.20μmB.50μmC.60μmD.100μm