按照尽可能声束与缺陷垂直的原则，选择探头主要考虑所测试件的结构和厚度。

探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。

判断题探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。

频率下限则由探伤灵敏度、脉冲高度及指向性决定。

判断题频率下限则由探伤灵敏度、脉冲高度及指向性决定。

表面波探头用于探测工件表面缺陷。

判断题表面波探头用于探测工件表面缺陷。