单项选择题
装片后进行外观检查时,如图不良现象为()。
A.芯片倾斜B.框架变形C.焊料氧化D.框架镀银区域氧化
芯片粘接的装料过程中,哪一步是需要参照键合图的?()A.装引线框架B.装引线框架盒C.安装银浆D.装晶圆花篮
单项选择题芯片粘接的装料过程中,哪一步是需要参照键合图的?()
A.装引线框架B.装引线框架盒C.安装银浆D.装晶圆花篮
装片后进行外观检查时,如图视角中的不良现象是()。A.支架生锈、沾污B.缺(崩)角C.碎片D.银胶胶量不足
装片后进行外观检查时,如图视角中的不良现象是()。
A.支架生锈、沾污B.缺(崩)角C.碎片D.银胶胶量不足
如图为()封装形式装架后的图像。A.TOB.SOPC.DIPD.QFN
如图为()封装形式装架后的图像。
A.TOB.SOPC.DIPD.QFN