单项选择题
A.氮化硅 B.二氧化硅 C.光刻胶 D.多晶硅
在IC芯片生长中浅沟槽隔离技术STI逐渐取代了局部氧化LOCOS所制成的()而成为相邻电子元件的绝缘体A.栅氧...
单项选择题在IC芯片生长中浅沟槽隔离技术STI逐渐取代了局部氧化LOCOS所制成的()而成为相邻电子元件的绝缘体
A.栅氧化层 B.沟槽 C.势垒 D.场氧化层
在生产过程中必须使用()来完成浅沟槽隔离STI。A.单晶硅刻蚀B.多晶硅刻蚀C.二氧化硅刻蚀D.氮化硅刻蚀
单项选择题在生产过程中必须使用()来完成浅沟槽隔离STI。
A.单晶硅刻蚀 B.多晶硅刻蚀 C.二氧化硅刻蚀 D.氮化硅刻蚀
在刻蚀二氧化硅过程中假如我们在CF4的()内加入适量的氢气,能够降低刻蚀的速率。A.气体B.等离子体C.固体D...
单项选择题在刻蚀二氧化硅过程中假如我们在CF4的()内加入适量的氢气,能够降低刻蚀的速率。
A.气体 B.等离子体 C.固体 D.液体